一場(chǎng)疫情，導致當下全球半導體缺芯嚴重，讓中國認清短板的同時(shí)也發(fā)現了機遇。雖然國內自主研制暫時(shí)無(wú)法達到國際優(yōu)異水平，但是依然有眾多國內芯片企業(yè)在堅持不懈地進(jìn)行自主研發(fā)，讓我們看到了中國企業(yè)的凝聚力與自強精神。

      而半導體芯片的檢測是制造中不可缺少的一部分，是為提高保障生產(chǎn)芯片的質(zhì)量，因此其在整個(gè)制造流程中起著(zhù)至關(guān)重要的作用?？的鸵曋腔蹤z測方案專(zhuān)為芯片制造保駕護航，更為助中國芯片制造一臂之力！芯片檢測中的難點(diǎn)問(wèn)題，就交給康耐視來(lái)一網(wǎng)打盡！

如今，半導體的特征尺寸為納米級，這就要求在執行制造工藝(如光刻、切割、引線(xiàn)接合和包裝)時(shí)具有超高的精度和對準。

     無(wú)論是在光刻工藝、晶圓探測和測試，還是晶圓安裝和切割過(guò)程中，視覺(jué)對準不良都會(huì )在機器的整個(gè)使用壽命期間造成數以千計的對位損壞晶圓。表現不佳的視覺(jué)系統會(huì )降低半導體設備公司的市場(chǎng)份額，并大大增加其支持成本。

       PatMax技術(shù)為晶圓檢測、探測、安裝、切割和測試設備提供穩定、準確且快速的圖案定位，以幫助避免這些問(wèn)題。PatMax使用獲得專(zhuān)利的幾何圖案發(fā)現算法來(lái)定位和對齊可變晶圓和晶粒圖案。它能以非常高的精度和可重復性對準晶圓和晶片，確保整個(gè)半導體制造流程中設備性能的可靠性。借助康耐視技術(shù)的幫助，OEM能夠優(yōu)化設備的整體性能，從而提高質(zhì)量和產(chǎn)量。

       半導體制造商必須重視其集成電路芯片上針腳的掛擦、扭曲、彎曲或缺失等情況。芯片容錯率很低，如果存在任何缺陷，即使是在最表層，也會(huì )使芯片成為廢品。在整個(gè)半導體生產(chǎn)過(guò)程中，機器視覺(jué)用于嚴格地監控質(zhì)量和查找缺陷。然而，因為可能出現的缺陷類(lèi)型太多，所以使用規則式算法對檢測進(jìn)行編程是非常低效的。深度學(xué)習視覺(jué)軟件無(wú)需使用大量的缺陷庫即可幫助限制半導體缺陷并提高產(chǎn)量。

      康耐視深度學(xué)習為識別異常特征提供了一個(gè)簡(jiǎn)單的解決方案，甚至不需要使用“不合格”(NG) 圖像進(jìn)行訓練。工程師使用康耐視深度學(xué)習工具，從“合格”(OK) 的集成電路引腳圖像中學(xué)習。缺陷檢測工具學(xué)習芯片引線(xiàn)和引腳的正常外觀(guān)和位置，并將所有偏離的特征描述為有缺陷。這種機器視覺(jué)系統和深度學(xué)習軟件的強大配對使半導體制造商能夠實(shí)現更低的測試成本，并提高整體產(chǎn)品質(zhì)量。